ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 - Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов| Наименование документа: | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
| Название англ.: | Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.07.2002 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 29 шт. |
| Дата издания: | 27.04.2001 |
| Переиздание: | |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 31 ЭЛЕКТРОНИКА 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника (Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры ;Микропроцессоры см.: 35.160) КГС Классификатор государственных стандартов Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь Э0 Общие правила и нормы по электронной технике, радиоэлектронике и связи Э02 Нормы расчета и проектирования ОКП 630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ 633000 Приборы электронные-микросхемы интегральные |
                             | |
