ГОСТ 18986.23-80 - Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц
| Наименование документа: | ГОСТ 18986.23-80 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума |
| Название англ.: | Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.01.1982 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 12 шт. |
| Дата издания: | 01.08.2002 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Поправки и изменения: | Изменение №1 к ГОСТ 18986.23-80 (1987-03-01) - «Срок действия продлен» |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 31 ЭЛЕКТРОНИКА 31.080 Полупроводниковые приборы (Полупроводниковые материалы см.: 29.045) КГС Классификатор государственных стандартов Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка ОКП 630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ 634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических 634100 Приборы полупроводниковые |
            | |
