ГОСТ 8.593-2009 - Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592| Наименование документа: | ГОСТ 8.593-2009 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.11.2010 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 12 шт. |
| Дата издания: | 10.06.2010 |
| Переиздание: | |
| Дата последнего изменения: | 18.12.2012 |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 17 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ 17.040 Линейные и угловые измерения (Включая геометрические характеристики (GPS)) 17.040.01 Линейные и угловые измерения в целом (Включая геометрические характеристики (GPS)) КГС Классификатор государственных стандартов Т Общетехнические и организационно-методические стандарты Т8 Государственная система измерений Т88 Методики поверки и метрологической аттестации Тематические сборники ГСОЕИ Государственная система обеспечения единства измерений. |
            | |
