ГОСТ Р 8.697-2010 - Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
| Наименование документа: | ГОСТ Р 8.697-2010 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
| Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.09.2010 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 16 шт. |
| Дата издания: | 19.04.2010 |
| Переиздание: | |
| Дата последнего изменения: | 17.01.2013 |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 17 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ 17.040 Линейные и угловые измерения (Включая геометрические характеристики (GPS)) 17.040.01 Линейные и угловые измерения в целом (Включая геометрические характеристики (GPS)) КГС Классификатор государственных стандартов Т Общетехнические и организационно-методические стандарты Т8 Государственная система измерений Т86 Методики выполнения измерений Тематические сборники ГСОЕИ Государственная система обеспечения единства измерений. |
                | |
