ГОСТ 8.171-75 - Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв| Наименование документа: | ГОСТ 8.171-75 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия |
| Название англ.: | State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.01.1977 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 36 шт. |
| Дата издания: | 10.11.1975 |
| Переиздание: | |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Поправки и изменения: | Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75 (1981-03-01) - «Срок действия продлен» Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75 (1987-07-01) - «Срок действия продлен» Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75 (1992-01-01) - «Срок действия продлен» |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 17 МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ 17.040 Линейные и угловые измерения (Включая геометрические характеристики (GPS)) 17.040.30 Измерительные приборы (Включая геометрические характеристики (GPS)) КГС Классификатор государственных стандартов Т Общетехнические и организационно-методические стандарты Т8 Государственная система измерений Т88 Методики поверки и метрологической аттестации Тематические сборники ГСОЕИ Государственная система обеспечения единства измерений. |
                                    | |
