ГОСТ 18986.14-85 - Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.Стандарт не распространяется на стабилитроны
| Наименование документа: | ГОСТ 18986.14-85 |
| Тип документа: | стандарт |
| Статус документа: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances |
| Дата актуализации текста: | 19.03.2013 |
| Дата введения: | 01.07.1986 |
| Дата актуализации описания: | 19.03.2013 |
| Кол-во страниц в основном тексте документа: | 11 шт. |
| Взамен: | ГОСТ 18986.14-75 ГОСТ 19656.8-74 |
| Дата издания: | 01.05.2004 |
| Переиздание: | переиздание |
| Дата последнего изменения: | 18.05.2011 |
| Расположен в: |   ОКС Общероссийский классификатор стандартов 31 ЭЛЕКТРОНИКА 31.080 Полупроводниковые приборы (Полупроводниковые материалы см.: 29.045) 31.080.10 Диоды (Полупроводниковые материалы см.: 29.045) КГС Классификатор государственных стандартов Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка ОКП 620000 КОНДЕНСАТОРЫ 621000 Конденсаторы постоянной емкости керамические |
           | |
