ОКП 630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ 634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрическихПриборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
Подкатегории категории Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических:
Диоды полупроводниковые <*> Транзисторы <*> Тиристоры <*> Приемно-усилительные лампы <*> Кинескопы всех видов <*> Оптоэлектронные элементы полупроводниковые <*> Приборы полупроводниковые Изделия квантовой электроники Приборы электровакуумные, кроме приборов электровакуумных СВЧ Приборы электровакуумные СВЧ Блоки и модули полупроводниковые СВЧ Приборы ферритовые СВЧ Приборы электронные разные | ГОСТ 17485-77 Фотоэлементы электровакуумные. Основные параметры | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 21316.4-75 Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 5 |
| ГОСТ 21316.5-75 Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21316.1-75 Фотоэлементы. Метод измерения световой чувствительности | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21316.3-75 Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 5 |
| ГОСТ 21316.2-75 Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 21316.7-75 Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 6 |
| ГОСТ 21316.6-75 Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 4 |
| ГОСТ 19798-74 Фотоэлементы. Общие технические условия | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1975 | Страниц: 22 |
| ГОСТ 21316.0-75 Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1979 | Страниц: 8 |
| ГОСТ Р 50964-96 Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Методы измерения параметров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1997 | Страниц: 37 |
| ГОСТ Р 51036-97 Элементы электрооптические. Методы измерения электрооптических параметров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1997 | Страниц: 30 |
