Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
   ОКП
  630000 ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ
  634000 Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических
  634100 Приборы полупроводниковые

Приборы полупроводниковые

Искать в Приборы полупроводниковые
Искать!

Содержит 72 документов
Страницы: « 1 2 3 4 »

ГОСТ 19138.2-85 Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1987Страниц: 3
ГОСТ 19138.3-85 Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1987Страниц: 4
ГОСТ 19138.5-85 Тиристоры триодные. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1987Страниц: 4
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 12
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1980Страниц: 8
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1974Страниц: 5
ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1977Страниц: 4
ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1979Страниц: 11
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1980Страниц: 6
ГОСТ 25368-82 Средства измерений максимальной мощности импульсного лазерного излучения. Типы и основные параметры. Методы измерений
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1983Страниц: 19
ГОСТ 28624-90 Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1991Страниц: 27
ГОСТ 15133-77 Приборы полупроводниковые. Термины и определения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1978Страниц: 37
ГОСТ 18472-88 Приборы полупроводниковые. Основные размеры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1989Страниц: 105
ГОСТ 24458-80 Оптопары полупроводниковые. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 3
ГОСТ 25819-83 Лазеры. Методы измерения максимальной мощности импульсного лазерного излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1984Страниц: 12
ГОСТ 25213-82 Лазеры. Методы измерения длительности и частоты повторения импульсов излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1983Страниц: 15
ГОСТ 26086-84 Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1985Страниц: 15
ГОСТ 25786-83 Лазеры. Методы измерений средней мощности, средней мощности импульса, относительной нестабильности средней мощности лазерного излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 25
ГОСТ 19319-82 Лазеры твердотельные. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1983Страниц: 4
ГОСТ 24428-80 Лазеры газовые. Общие технические условия
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1982Страниц: 24
Страницы: « 1 2 3 4 »
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьПриборы полупроводниковые, Приборы электронные, кроме микросхем интегральных и приборов пьезоэлектрических, ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА, КРОМЕ РЕЗИСТОРОВ И КОНДЕНСАТОРОВ, ОКП,