Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
   ОКП
  620000 КОНДЕНСАТОРЫ

КОНДЕНСАТОРЫ

Искать в КОНДЕНСАТОРЫ
Искать!
Подкатегории категории КОНДЕНСАТОРЫ:
Конденсаторы постоянной емкости керамические
Конденсаторы постоянной емкости на основе стекла
Конденсаторы постоянной емкости слюдяные
Конденсаторы постоянной емкости пленочные с органическим синтетическим диэлектриком
Конденсаторы постоянной емкости оксидные
Конденсаторы прочие

Содержит 70 документов
Страницы: « 1 2 3 4 »

ГОСТ 24460-80 Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 4
ГОСТ 24352-80 Излучатели полупроводниковые. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 4
ГОСТ 28814-90 Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1992Страниц: 6
ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 6
ГОСТ 19834.0-75 Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1976Страниц: 7
ГОСТ 24459-80 Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 7
ГОСТ 19834.5-80 Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 7
ГОСТ 12.2.007.5-75 Система стандартов безопасности труда. Конденсаторы силовые. Установки конденсаторные. Требования безопасности
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1978Страниц: 7
ГОСТ 19834.4-79 Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1981Страниц: 7
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 8
ГОСТ 19834.3-76 Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1977Страниц: 9
ГОСТ 19834.2-74 Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 10
ГОСТ 30668-2000 Изделия электронной техники. Маркировка
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.2002Страниц: 11
ГОСТ 28217-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Ес: Падение и опрокидование, предназначенное в основном для аппаратуры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 11
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1986Страниц: 11
ГОСТ 23448-79 Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Основные размеры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1981Страниц: 11
ГОСТ 28884-90 Ряды предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1992Страниц: 12
ГОСТ Р МЭК 60384-14-1-2004 Конденсаторы постоянной емкости для электронной аппаратуры. Часть 14-1. Форма технических условий на конденсаторы постоянной емкости для подавления электромагнитных помех и соединения с питающими магистралями. Уровень качества D
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.2005Страниц: 12
ГОСТ Р 54436-2011 Требования к характеристикам камер для испытаний технических изделий на стойкость к внешним воздействующим факторам. Методы аттестации камер (с загрузкой) для испытаний на стойкость к воздействию влажности воздуха в циклическом режиме
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.2012Страниц: 12
ГОСТ 17465-80 Диоды полупроводниковые. Основные параметры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 14
Страницы: « 1 2 3 4 »
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьКОНДЕНСАТОРЫ, ОКП,