Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
  ОКС Общероссийский классификатор стандартов
  31 ЭЛЕКТРОНИКА

ЭЛЕКТРОНИКА

Искать в ЭЛЕКТРОНИКА
Искать!
Подкатегории категории ЭЛЕКТРОНИКА:
Электронные компоненты в целом (Магнитные компоненты см.: 29.100.10)
Резисторы
Конденсаторы
Полупроводниковые приборы (Полупроводниковые материалы см.: 29.045)
Электронные лампы
Электронные дисплеи (Включая дисплеи на жидких кристаллах)
Пьезоэлектрические и диэлектрические приборы
Электрические фильтры
Печатные схемы и платы
Электронные компоненты в сборе (Включая предварительно собранные модули)
Интегральные схемы. Микроэлектроника (Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры ;Микропроцессоры см.: 35.160)
Электромеханические компоненты электронного оборудования и телекоммуникационного оборудования
Механические конструкции электронного оборудования
Оптоэлектроника. Лазерное оборудование (Включая фотоэлементы)

Содержит 826 документов
Страницы: « 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 » »»

ГОСТ 21815.2-86 Преобразователи электронно-оптические. Метод измерения коэффициента преобразования
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1988Страниц: 7
ГОСТ 3521-81 Стекло оптическое. Метод определения бессвильности
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1983Страниц: 7
ГОСТ 18604.10-76 Транзисторы биполярные. Метод измерения входного сопротивления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1978Страниц: 7
ГОСТ 18862-73 Кинескопы для черно-белого телевидения. Метод измерения контраста
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 19834.4-79 Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1981Страниц: 7
ГОСТ 21395.5-75 Резисторы переменные. Метод проверки прочности стопорения подвижной системы
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1977Страниц: 7
ГОСТ Р 52871-2007 Дисплеи для слабовидящих. Требования и характеристики
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.2009Страниц: 7
ГОСТ 28234-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Кb: Соляной туман, циклическое (раствор хлорида натрия)
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 23618-79 Изделия из ферритов и магнитодиэлектриков. Термины и определения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1980Страниц: 8
ГОСТ 28225-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Z/АМD: Комбинированно-последовательное испытание на воздействие холода, пониженного атмосферного давления и влажного тепла
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 20862-81 Стойки установочные крепежные шестигранные с резьбовыми концом и отверстием. Конструкция и размеры
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1982Страниц: 8
ГОСТ 28202-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Sа: Имитированная солнечная радиация на уровне земной поверхности
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 28232-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Руководство по применению испытаний стандартов МЭК 68 (ГОСТ 28198-89 - ГОСТ 28236-89) для имитации воздействий хранения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 28227-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Кd: Испытание контактов и соединений на воздействие сероводорода
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 28226-89 Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Кс: Испытание контактов и соединений на воздействие двуокиси серы
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.03.1990Страниц: 8
ГОСТ 19748.2-74 Трубки электронно-лучевые функциональные. Методы измерения основных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1976Страниц: 8
ГОСТ 24613.9-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 8
Страницы: « 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 » »»
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьЭЛЕКТРОНИКА, Общероссийский классификатор стандартов,