ОКС Общероссийский классификатор стандартов 31 ЭЛЕКТРОНИКА 31.260 Оптоэлектроника. Лазерное оборудованиеОптоэлектроника. Лазерное оборудование
Включая фотоэлементы| ГОСТ 3522-81 Материалы оптические. Метод определения пузырности | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 3519-91 Материалы оптические. Методы определения двулучепреломления | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1993 | Страниц: 21 |
| ГОСТ 3520-92 Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1993 | Страниц: 20 |
| ГОСТ 13917-92 Материалы оптические. Методы определения химической устойчивости. Группы химической устойчивости | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1993 | Страниц: 16 |
| ГОСТ 5.2105-73 Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.09.1973 | Страниц: 13 |
| ГОСТ Р ИСО 13694-2010 Оптика и оптические приборы. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений распределения плотности мощности (энергии) лазерного пучка | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.10.2011 | Страниц: 20 |
| ГОСТ Р ИСО 13695-2010 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерные установки (системы). Методы измерений спектральных характеристик лазеров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.10.2011 | Страниц: 28 |
| ГОСТ 24458-80 Оптопары полупроводниковые. Основные параметры | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1982 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 23339-78 Переключатели оптоэлектронные логических сигналов. Основные параметры | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1980 | Страниц: 3 |
| ГОСТ 29283-92 Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1993 | Страниц: 34 |
| ГОСТ 25677-83 Преобразователи импульсного лазерного излучения электронно-оптические измерительные. Основные параметры. Методы измерений | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1984 | Страниц: 32 |
| ГОСТ 25312-82 Преобразователи лазерного излучения измерительные тепловые термоэлектрические. Типы и основные параметры. Методы измерений | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1983 | Страниц: 26 |
| ГОСТ 25774-83 Преобразователи электронно-оптические. Метод определения амплитудно-частотной характеристики | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1984 | Страниц: 10 |
| ГОСТ Р 50508-93 Приборы наблюдательные телескопические. Методы контроля параметров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1994 | Страниц: 35 |
| ГОСТ 28953-91 Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения параметров | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1992 | Страниц: 31 |
| ГОСТ 17333-80 Приборы фотоэлектронные. Методы измерения спектральной чувствительности фотокатодов | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1981 | Страниц: 8 |
| ГОСТ 17772-88 Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.1989 | Страниц: 65 |
| ГОСТ 28601.3-90 Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Каркасы блочные и частичные вдвижные. Основные размеры | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1991 | Страниц: 11 |
| ГОСТ 4.431-86 Система показателей качества продукции. Приемники излучения фотоэлектрические. Номенклатура показателей | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.01.1987 | Страниц: 11 |
| ГОСТ Р 12.1.031-2010 Система стандартов безопасности труда. Лазеры. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения | |
| Дата актуализации текста: 19.03.2013 | Статус: действующий |
| Дата актуализации описания: 19.03.2013 | Тип документа: стандарт |
| Дата введения: 01.07.2012 | Страниц: 50 |
