Нормативные документы размещены исключительно с целью ознакомления учащихся ВУЗов, техникумов и училищ.
  ОКС Общероссийский классификатор стандартов
  31 ЭЛЕКТРОНИКА
  31.080 Полупроводниковые приборы

Полупроводниковые приборы

Полупроводниковые материалы см.: 29.045
Искать в Полупроводниковые приборы
Искать!
Подкатегории категории Полупроводниковые приборы:
Полупроводниковые приборы в целом
Диоды
Тиристоры
Транзисторы
Полупроводниковые приборы прочие

Содержит 134 документов
Страницы: « 1 2 3 4 5 6 7 »

ГОСТ 18986.12-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1976Страниц: 4
ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1976Страниц: 7
ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1986Страниц: 11
ГОСТ 18986.15-75 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1977Страниц: 4
ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1974Страниц: 4
ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1974Страниц: 5
ГОСТ 18986.18-73 Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1974Страниц: 4
ГОСТ 18986.19-73 Варикапы. Метод измерения добротности
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 10
ГОСТ 18986.20-77 Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1979Страниц: 11
ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1980Страниц: 6
ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1980Страниц: 8
ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1982Страниц: 12
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.07.1984Страниц: 3
ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 3
ГОСТ 18986.4-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.5-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.6-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.7-73 Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 6
ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Дата актуализации текста: 19.03.2013Статус: действующий
Дата актуализации описания: 19.03.2013Тип документа: стандарт
Дата введения: 01.01.1975Страниц: 7
Страницы: « 1 2 3 4 5 6 7 »
2010-2013. ГОСТы, СНиПы, СанПиНы - Государственный стандарты. скачатьПолупроводниковые приборы, ЭЛЕКТРОНИКА, Общероссийский классификатор стандартов,